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    MEMS探针卡
    功效先容
    主要用晶圆测试时实现测试机与被测裸片的电气联接，通过传输信号对芯片参数举行测试。
    产物先容
    主要用于晶圆测试时实现测试机与被测裸片的电气联接，通过传输信号对芯片参数举行测试。

    • 地址：深圳市龙华区龙华街道清宁路富安娜工业园D栋1楼

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